XTD是一款用于檢測各種異形件，特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析光譜儀。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

1. 搭載微聚焦X射線發(fā)生器和*的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，測量面積達(dá)0.03mm²
2. 擁有無損變焦檢測技術(shù)，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進(jìn)行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm
3. 核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，準(zhǔn)確檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度）
4. 配備高精密微型移動滑臺，可實現(xiàn)多點(diǎn)位、多樣品的準(zhǔn)確位移和同時檢測
5. 可同時分析23個鍍層，24種元素，測量元素范圍：氯Cl（17）- 鈾U（92），涂鍍層分析范圍：氯Cl（17）/鋰Li（3）- 鈾U（92），涂鍍層低檢出限：0.005μm
6. 人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作
7. 標(biāo)配2準(zhǔn)直器自由選擇，測量面積可達(dá)0.03mm²
8. 配有微光聚集技術(shù)，近測距光斑擴(kuò)散度小于10%

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行業(yè)應(yīng)用：衛(wèi)浴鍍銅鎳鉻（Cr/Ni/Cu/ABS）

在五金衛(wèi)浴行業(yè)，電鍍的通用方案都會在各類基體上（鋅合金，鋼鐵，鋁合金，銅或銅合金，塑料等）上鍍銅鍍鎳鍍鉻。

衛(wèi)浴行業(yè)的鍍層測試難點(diǎn)主要體現(xiàn)在一下幾個方面

1.樣品結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜，需要檢測的區(qū)域高低不一。

2.樣品表面的裝飾Cr鍍層一般在0.5um以下，Cr在元素周期表中靠前，其X射線熒光能量較弱，加上在異形件測試中，由于測試高度的變化,Cr熒光能量損耗嚴(yán)重，導(dǎo)致測試結(jié)果發(fā)生偏差。

3.塑料基材類的鍍層，由于衛(wèi)浴行業(yè)的特殊需求，鍍銅鍍鎳層一般都很厚，底層的銅層由于Ni層較厚，銅層熒光不能穿透出來被接受，導(dǎo)致銅層無法測試。

4.而較薄的鍍銅鎳鉻產(chǎn)品，在電鍍時，塑料基體的正面和背面都有電鍍，背面的銅鎳的熒光可以輕易穿透基材塑料，從而被儀器接收，造成測試結(jié)果不能反映產(chǎn)品的真實鍍層情況。

自主研發(fā)的XTD系列儀器，采用上照式的設(shè)計結(jié)構(gòu)，加上自動/手動對焦以及變焦功能，輕松應(yīng)對各種復(fù)雜結(jié)構(gòu)的樣品的測試。變焦結(jié)構(gòu)的設(shè)計加上EFP軟件的距離補(bǔ)償算法，自動補(bǔ)償因測試距離變長導(dǎo)致的X射線熒光能量的衰減，測試結(jié)果更加準(zhǔn)確。

在檢測報告，可以直觀的看出，XTD可以更好的解決因鎳層過厚導(dǎo)致的銅層無法測試和薄銅鎳樣品因背面鍍層穿透帶來的影響的問題。 

項目   型號	XTD
測量元素范圍	Cl（17）- U（92）
涂鍍層分析范圍	Cl（17）/Li（3）- U（92）
EFP算法	標(biāo)配
分析軟件	同時分析23個鍍層，24種元素
不同層相同 元素檢測能力	選配
軟件操作	人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作
X射線裝置	微聚焦射線管
準(zhǔn)直器	Φ0.5mm； Φ0.2mm； 兩準(zhǔn)直器任意選擇一種
微光聚焦技術(shù)	近測距光斑擴(kuò)散度 10%
測量距離	具有距離補(bǔ)償功能，可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-90mm
樣品觀測	1/2.7”彩色CCD，變焦功能
對焦方式	高敏感鏡頭，無感自動對焦
放大倍數(shù)	光學(xué)18-46X，數(shù)字放大20-200倍
儀器尺寸	550mm*760mm*635mm
Z軸移動范圍	145mm
樣品臺移動方式	手動XY滑臺
可移動范圍	100mm*150mm
儀器重量	100KG
其他附件	電腦一套、打印機(jī)、附件箱、十二元素片、電鍍液測量杯（選配）、標(biāo)準(zhǔn)片（選配）
X射線標(biāo)準(zhǔn)	DIN ISO 3497、DIN 50987和ASTM B 568